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专利名称：存储器测试方法及其存储器装置专利类型：发明专利发明人：陈毓明
申请号：CN2017108114.6申请日：20170911公开号：CN109215726A公开日：20190115
摘要：本发明提供一种对存储器装置进行测试的存储器测试方法及其存储器装置，包括：从所述存储器的存储器阵列读取测试数据；以及将所述测试数据编码成包括第一数据及第二数据的编码数据。所述第一数据及所述第二数据分别表示所述读取测试数据中的二进位状态的数目及错误比特。
申请人：华邦电子股份有限公司
地址：中国台中市大雅区科雅一路8号
国籍：TW
代理机构：北京同立钧成知识产权代理有限公司
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